- 品名:梅特勒-托利多微量分析天平 XS204DR
- 產(chǎn)地:瑞士
- 毛重:0公斤
梅特勒-托利多 微量分析天平 XS204DR
梅特勒-托利多 微量分析天平 XS204DR 產(chǎn)品介紹
- 按照OIML76標(biāo)準(zhǔn)
- 溫度范圍10 …30℃
- 靈敏度漂洗/年(天平首次使用后),激活FACT全自動(dòng)校準(zhǔn)技術(shù)
- 包括樣品處理時(shí)間設(shè)置
梅特勒-托利多 微量分析天平 XS204DR 技術(shù)指標(biāo)
量程 | 變量程 |
可讀性 | 0.1/1mg |
最大稱量值 | 81/220g |
重復(fù)性 | 0.7mg |
10g重復(fù)性(s) | 0.1mg |
線性 | ±0.2mg |
靈敏度漂移 | 0.0004% |
靈敏度溫度漂移2) | 0.00015%/℃ |
靈敏度穩(wěn)定性3) | 0.0002%/a |
典型稱量時(shí)間4) | 4s |
接口更新速率 | 23/s |
防風(fēng)罩有效高度(mm) | 235 |
秤盤尺寸 | 78×73 |
外形尺寸(W×D×H)(mm) | 263×453×322 |
好評(píng)度